kesan suhu pada ujian tekanan tinggi

Perubahan suhu akan menjejaskan sepenuhnya rintangan penebat, jadi apabila suhu luaran terus meningkat, pergerakan molekul dan ion dalam bahan penebat akan terus mempercepatkan kelajuan pergerakan dengan peningkatan suhu, yang akan membawa kepada kekutuban. rintangan penebat boleh diperbaiki, dan rintangan penebat dikurangkan. Pada masa yang sama, dalam proses peningkatan suhu, kelajuan pergerakan molekul air dalam rintangan penebat akan terus mempercepatkan, supaya kekotoran pada permukaan rintangan penebat dapat dengan cepat dibubarkan, supaya rintangan dapat dikurangkan dengan cepat. . Di samping itu, penurunan rintangan penebat secara langsung berkaitan dengan kotoran di permukaan. Pada masa yang sama, analisis beberapa data penyelidikan menunjukkan bahawa perubahan suhu juga akan membawa kepada perubahan nisbah penyerapan penebat transformer. Dalam kes ini, ia boleh dibahagikan kepada dua kes. Bagi tekanan berubah kering Lu, nisbah serapan akan meningkat dengan peningkatan suhu. Walau bagaimanapun, apabila suhu meningkat kepada lebih daripada 40 ℃, nisbah penyerapan akan berkurangan. Dalam kes lain, dengan peningkatan suhu, nisbah penyerapan akan berkurangan.

pengaruh kelajuan kenaikan tekanan

Dalam ujian voltan tinggi, kelajuan penggalak akan menjejaskan kebocoran semasa, jadi dalam ujian, adalah perlu untuk memahami secara fleksibel mengikut kapasiti pengubah untuk mengawal berlakunya ralat sebanyak mungkin, untuk memastikan ketepatan keputusan ujian voltan tinggi.

contoh ujian pengubah kuasa

Mengambil ujian rintangan DC penggulungan dan sesendal sebagai contoh, perkara yang memerlukan perhatian dalam ujian dijelaskan secara ringkas. Kerana penggulungan pengubah mempunyai kearuhan yang besar dan kearuhan bersama, tetapi mempunyai rintangan yang kecil, mengikut pemalar masa adalah L / R, akan didapati bahawa pemalar masa adalah sangat besar. Dalam kes ini, jika arus adalah stabil, masa pengecasan akan menjadi sangat lama. Oleh itu, bagi sesetengah transformer besar, masa ujian harus dipendekkan sejauh mungkin. Jika ia adalah untuk mengukur rintangan dalam belitan voltan rendah pengubah berskala besar, kerana terdapat beberapa lilitan menarik pada hujung voltan rendah, kaedah magnetisasi belitan siri boleh diguna pakai dan mod sambungan yang betul harus dipilih. .